石墨烯导电薄膜的可控制备及导电性能研究

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自从2004年石墨烯被曼彻斯顿大学的研究者发现以来,它受到了广大材料研究者的追捧。石墨烯材料独特的二维结构使其具备较大的比表面积、优异的导电性、较高的强度等特性,特别是具有良好的透光性和独特的量子霍尔效应。它的这种独特的电子结构和这些优异性能使得其有望实现在光电子器件领域的广泛应用。IBM公司已经投资于石墨烯材料的研究,并报道研制出了一种石墨烯晶体管,具有目前最高的频率——100GHz。2007年,美国西北大学的Ruoff课题组用直接流动自组装分散氧化石墨烯片的方法合成了一种氧化石墨烯(GO)纸,并且提出在已知的制备石墨烯材料的方法中,对氧化石墨进行改性,可以说是最容易且可扩展的方法。至此,将石墨烯材料的研究推向一个新的高潮。然而氧化石墨烯表面含氧官能团的存在破坏了石墨原来的共轭结构,使得其具有较高的电阻,限制了其在电子器件领域的应用。本研究采用改进后的Hummers法以鳞片石墨为原料制备得到氧化石墨。然后,通过超声分散、离心处理等步骤得到氧化石墨烯胶体溶液,即一种胶体溶液。通过加入电解质,将氧化石墨烯胶体分子沉积下来,并采用重力沉积的方法自组装得到氧化石墨烯薄膜。在不同的温度下对薄膜进行热处理还原,除去了氧化石墨烯薄膜上的含氧官能团,使其在保持形貌不变的同时具有较高导电性。利用场发射扫描电子显微镜(FESEM).透射电子显微镜(TEM). X-射线衍射分析(XRD)、拉曼光谱分析(RAMAN)等分别对热处理前后的样品结构和形貌进行了表征;采用RTS-9型双电测四探针测试仪对热处理后的薄膜电阻性能进行测试,通过测试不同热处理温度下样品电阻、电阻率和电导率,分析了热处理温度对样品电阻性能的影响。实验结果表明:1.自组装方法制备氧化石墨烯薄膜简单易行,厚度尺寸可控。薄膜宏观完整连续且无支撑,微观层状结构良好,且有较好的透光性。2.用热处理的方法可以成功将氧化石墨烯薄膜还原。红外、拉曼等谱图表明热处理除去了薄膜中的一部分含氧官能团,并且重建了石墨的共轭结构,在保持形貌不变的同时恢复了其电导性。3.用四探针电阻测试仪测得:随着热处理温度的升高,薄膜的电阻及电阻率有较大幅度的减小,电导率不断升高,于1100℃热处理可以使得电导率高达约536S/cm。
摘要第3-5页
ABSTRACT第5-7页
第一章 绪论第10-30页
    1.1 石墨烯概述第10-21页
        1.1.1 石墨烯的发展第10-12页
        1.1.2 石墨烯的结构及性质第12-16页
        1.1.3 石墨烯的制备方法第16-19页
        1.1.4 石墨烯及其衍生物的应用前景第19-21页
    1.2 石墨烯导电薄膜概述第21-28页
        1.2.1 石墨烯及其衍生物薄膜的制备方法第21-26页
        1.2.2 石墨烯导电薄膜的应用前景第26-28页
    1.3 本课题研究内容和目的第28-30页
        1.3.1 目前存在的问题和研究趋势第28页
        1.3.2 研究内容第28-30页
第二章 实验部分第30-40页
    2.1 实验所需原料第30-31页
    2.2 仪器设备第31页
    2.3 制备氧化石墨烯薄膜的实验步骤第31-34页
        2.3.1 制备流程图第31-32页
        2.3.2 氧化石墨的制备第32-33页
        2.3.3 氧化石墨烯薄膜的组装第33-34页
    2.4 成膜原理第34页
    2.5 分析和测试方法第34-40页
        2.5.1 场发射扫描电子显微镜(FESEM)第34-35页
        2.5.2 透射电子显微镜(TEM)第35页
        2.5.3 X-射线衍射分析(XRD)第35-36页
        2.5.4 紫外可见光谱分析(UV-vis)第36页
        2.5.5 拉曼光谱分析(Raman)第36-37页
        2.5.6 外吸收光谱分析(FT-IR)第37-38页
        2.5.7 Mikro Test G6自动测厚仪第38页
        2.5.8 电阻性能分析第38-40页
第三章 氧化石墨烯薄膜的结构表征第40-50页
    3.1 GO薄膜的微观形貌分析第40-44页
    3.2 GO薄膜的X射线衍射分析第44-45页
    3.3 GO薄膜的紫外及拉曼图谱分析第45-47页
    3.4 GO薄膜的红外光谱分析第47-48页
    3.5 GO薄膜的透光性分析第48-49页
    3.6 本章小结第49-50页
第四章 石墨烯导电薄膜的导电性能研究第50-64页
    4.1 石墨烯导电薄膜的制备第50-51页
    4.2 薄膜热处理前后的结构对比分析第51-60页
        4.2.1 热处理前后样品形貌对比第51-52页
        4.2.2 热处理前后拉曼光谱分析第52-58页
        4.2.3 热处理前后红外吸收光谱分析第58-60页
    4.3 热处理后薄膜的导电性能分析第60-63页
    4.4 小结第63-64页
第五章 结论及展望第64-66页
    5.1 结论第64-65页
    5.2 展望第65-66页
参考文献第66-76页
致谢第76-77页
攻读硕士期间发表的论文及研究成果第77页
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